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XRW-300HB型熱變形、維卡軟化點(diǎn)測定儀采用采用計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示操作，控制系統(tǒng)基于第二代ARM Cortex-M3內(nèi)核的微控制器研發(fā)設(shè)計(jì)，它具采用操作頻率高達(dá)120MHz性能、低功耗的32位微處理器，性能遠(yuǎn)高于16位、12MHz單片機(jī)，具有大容量閃存、大容量SRAM、豐富的IO端口資源以及其他外設(shè)組件，高度集成的測控系統(tǒng)，具有實(shí)時(shí)性更好、速度更快、穩(wěn)定性更高的特點(diǎn)，采用了基于Σ-Δ技術(shù)的16位無誤碼數(shù)據(jù)的AD芯片，先進(jìn)的PID控制算法使控制平穩(wěn)可靠，基于帶CRC校驗(yàn)的主從通訊模式，數(shù)據(jù)安全可靠。
本機(jī)具有試樣多工位分組實(shí)驗(yàn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)記憶、自動計(jì)算實(shí)驗(yàn)載荷和形變撓度、試驗(yàn)恒溫預(yù)處理、試驗(yàn)自動保存記錄及打印輸出、用戶自行校準(zhǔn)功能。該機(jī)主要用于非金屬材料如塑料、橡膠、 尼龍、電絕緣材料等的熱變形溫度及維卡軟化點(diǎn)溫度的測定，產(chǎn)品符合IS075(E)、IS0306(E)、GB/T8802、GB／T1633、GB／T1634等標(biāo)準(zhǔn)要求，是各質(zhì)檢單位、大專院校和各企業(yè)自檢的必備儀器。
XRW-300HB型熱變形、維卡軟化點(diǎn)測定儀具有試樣架升降功能，按動主機(jī)前面板的“升”“?！薄敖怠卑粹o可控制試樣架的升降，升降具有限位功能。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
溫度控制范圍：環(huán)境溫度—300℃
升溫速率：（120±10）℃/h (12±1)℃/6min
(50±5)℃/h (5±0.5)℃/6min
溫度誤差：±0.5℃
變形示值誤差：0.001mm，
變形測量范圍：0—10mm
試樣架個(gè)數(shù)：6個(gè)（可定制）
負(fù)載桿及托盤質(zhì)量：68g
加熱介質(zhì)：甲基硅油(選用粘度為200厘斯)或變壓器油
冷卻方式：150以上自然冷卻，150以下水冷或自然冷卻。
加熱功率：4kw
上一條 ： XNR-400H 熔體流動速率測試儀